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用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第1部分:辐射特性及产生方法
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用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第1部分:辐射特性及产生方法
标准信息
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目录
前言
1范围
2规范性引用文件
3术语与定义
3.1平均光子能量 mean photon energy,
3.2谱分辨率(半峰高处的全宽度)RE spectral resolution,RE
3.3半值层(空气比释动能)HVL或HVLx[2] half-valuelayer(airkerma),HVL or HVLx
3.4同质系数h homogeneity coefficient,h
3.5有效能量Eeff effective energy,Eeff
3.6峰-峰电压值[波纹] value of peak-to-peak voltage[ripple]
3.7X射线机 X-ray unit
3.8X射线管 X-ray tube
3.9监测仪 monitor
3.10初级辐射(束) primary radiation(beam)
3.11次级[荧光]辐射 secondary[fluorescence]radiation
3.12X射线管屏蔽 X-ray tube shielding
4 连续谱过滤X辐射
4.1 总则
4.3 产生参考辐射的替代方法
5 荧光X辐射
5.1 原理
5.2 荧光X射线装置
5.4 散射辐射的测量
5.5 参考辐射使用指导
6 放射性核素γ辐射
6.1 用于产生γ辐射的放射性核素
6.3 照射装置和散射辐射的影响
6.4 合格性检验
7 能量在4MeV~9MeV间的光子辐射
7.1 概述
7.2 参考辐射的产生
7.3 射线束直径和辐射场的均匀性
附录 A
附录 B
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