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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
标准信息
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目录
前言
1范围
2规范性引用文件
3术语与定义
3.1半导体探测器 semiconductor detector
3.2(半导体探测器的)死层 dead layer(of semiconductor detector)
3.3(探测器的)窗 window(of detector)
3.4半导体探测器的几何形状 geometry of semiconductor detector
3.5(半导体探测器对单能辐射源的)效率 efficiency(of semiconductor detector for mono-energetic radiation source)
3.6(半导体探测器的)能量分辨率 energy resolution(of semiconductor detector)
3.7半高宽(FWHM) full width at half maximum(FWHM)
3.8十分之-高宽(FWTM) full width at tenth maximum(FWTM)
3.9半导体X射线探测器系统 semiconductor X-ray detector system
3.10半导体X射线能谱仪 semiconductor X-ray energy spectrometer
3.11主放大器(成形放大器) main amplifier(shaping amplifier)
3.12成形网络 shaping network
3.13偏置脉冲放大器 biased pulse amplifier
3.14多道分析器(MCA) multi-channel analyzer(MCA)
3.15谱线 spectrum line
3.16(与半导体探测器谱峰有关的)本底 background(associated with spectral peak from semiconductor detector)
3.17(单能峰的)尾 tail(of mono-energetic spectral peak)
3.18峰位 peak position
3.19(脉冲峰位处的)基线 baseline(atpulse peak)
3.20基线恢复 baseline restoration
3.21积分非线性(INL)(%) integral non-linearity(INL)(%)
3.22噪声线宽 noise line-width
3.23(计数装置中的)堆积 pile-up(in counting assembly)
3.24反堆积 pile-up rejection
3.25极-零相消 pole-zero cancellation
3.26(半导体X射线能谱仪的)标准工作轴线 standard working axis(of semiconductor X-ray energy spectrometer)
3.27工作距离 working distance
4 符号
5 一般原则
5.1 被测对象及其性能特性
5.2 测量设备
5.3 测量系统
6 能量分辨率和能谱畸变
6.1 概述
6.3 作为放大器时间常数函数的噪声线宽
7 积分非线性
7.2 电桥法
8 计数率效应
8.1 概述
8.3 谱峰位偏移
8.4 谱的能量分辨率和谱线形状
8.5 谱峰计数损失
9 电压变化影响、温度效应和长时间不稳定性
9.1 概述
9.4 长时间不稳定性
10 效率
10.1 概述
10.3 高能区效率测量
11 过载效应
11.1 概述
11.2 主放大器增益的恢复时间
附录 A
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